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          	晶硅電池PECVD鍍膜檢測模塊
	
          
	
          
		主要用于檢測晶硅電池片鍍膜工藝后的色差和表面缺陷
	
          
	
          
		產品型號：LPsolar- SP200  (面陣)、LPsolar- SP300 (線掃)
	
          
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          參數性能
          
                
          
	
          
		
			
          
				
					產能 
				
				
					≥4500片/小時
				
			
          
			
          
				
					最高檢測精度 
				
				
					90μm
				
			
          
			
          
				
					設備有效時間 
				
				
					≥99%
				
			
          
			
          
				
					重復檢測率 
				
				
					>99.9%
				
			
          
			
          
				
					破片率 
				
				
					<0.05%（機械臂吸片）
				
			
          
			
          
				
					重復性 
				
				
					99.85%
				
			
          
			
          
				
					外形尺寸 
				
				
					單檢測工位：430mm*350mm*600mm
				
			
          
			
          
				
					重量 
				
				
					單檢測工位≤20KG
				
			
          
		          
	
          

           
          
            
          
          
        
            
          
              
          
                
          
                  
          
                    
          產品優勢
          
                    
          
	
            
		
          • 
			
            
				
            
					配備深度學習功能，將缺陷的標準交給生產商
				
            
			
            
		
            • 
		
          • 
			
            
				
            
					配備標準WEB、SQL接入口
				
            
			
            
		
            • 
		
          • 
			
            
				
            
					不停頓成像模式、不停頓剔除NG片
				
            
			
            
		
            • 
		
          • 
			
            
				
            
					靈活、可定義的分選標準
				
            
			
            
		
            • 
		
          • 
			
            
				
            
					定制化工程方案
				
            
			
            
		
            • 
	
          

           
          
                
          
              
          
              
            
          
          
        
        
            
          
              
          
                
          缺陷圖例
          
                
          
                  
            
                    
                      
                        
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            白點
            
                          
            
                        
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            臟污
            
                          
            
                        
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            片內色差
            
                          
            
                        
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            整體色差
            
                          
            
                        
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            邊緣繞度
            
                          
            
                        
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            刻蝕印
            
                          
            
                        
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